HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备 本仪器针对IC卡在国标GB/T 16649.1等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备采用先进的同步带传动，非接触式光电计数，15工位同时测量大大提高的仪器的精度和使用寿命。 HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备图片 
HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备主要技术参数 外形尺寸：长×宽×高（670×380×220mm） 仪器重量：70kg 电压：AC220V±5% 功率：35W 测试速度：弯曲30r/min 测试周期：1~9999次 弯曲度；长边20 mm，短边10 mm 扭曲度：15°±1°双向 HY（IC）IC卡动态弯扭试验机设备产品用途：用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。 好质量好品牌好服务在上海衡翼，更多优惠请。 衡翼全体员工真诚为您提供优质产品优质服务。 公司承诺： 1.购机前，我们专门派技术人员为您设计流程和方案 2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装 3.整机保修一年，产品终身维护 4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用 |
